La Micro XRF série W utilise des optiques poly-capillaires pour focaliser le faisceau de rayons X à 7,5 µm FWHM, la plus petite taille de faisceau au monde pour l’analyse d’épaisseur de revêtement par technologie XRF. Idéale pour mesurer de petits échantillons tels que les BGA et les soudures fines, elle est équipée d’une caméra à grossissement 140X accompagnée d’une caméra secondaire à faible grossissement pour la visualisation en direct et l’imagerie macro. Le système à double caméra de Bowman permet de voir la pièce entière, de zoomer facilement et de cibler précisément la zone à mesurer.

Une platine programmable X-Y avec une précision de ±1 µm permet de sélectionner plusieurs points de mesure, assistée par le logiciel de reconnaissance de forme et l’auto-focus de Bowman. Le système offre également une cartographie 3D pour visualiser la topographie des revêtements sur des pièces comme les wafers de silicium.

La configuration standard des instruments de la série W comprend des optiques à 7,5 µm, un tube à anode en molybdène (chromium et tungstène en option) et un détecteur Silicon Drift à grande fenêtre et haute résolution, capable de traiter plus de 2 millions de counts par seconde.

Septième modèle de la gamme XRF de Bowman, la série W mesure simultanément jusqu’à 5 couches de revêtement et utilise le logiciel Archer, qui propose des commandes intuitives, des raccourcis, une recherche avancée, des rapports en un clic et facilite la création de nouvelles applications.