La mesure de l’épaisseur du revêtement est une exigence pour les fabricants qui déposent des revêtements sur des pièces métalliques, car les instruments garantissent la qualité, des spécifications précises et économisent les dépenses.
Les instruments de mesure d’épaisseur de revêtement Bowman disposent d’une technologie de détection exclusive et d’un logiciel avancé qui permet aux systèmes de déterminer également les éléments présents dans l’échantillon. Nos instruments XRF mesurent simultanément jusqu’à cinq couches de revêtement, qui peuvent toutes être des alliages, et peuvent également mesurer les HEA (revêtements à haute entropie).
Une caméra vidéo à microfocus, alignée avec l’axe de l’optique à rayons X, sélectionne la zone de l’échantillon à mesurer. Un élévateur contrôlé par un laser de mise au point accueille des échantillons de mesure de différentes hauteurs.
Le système de mesure de revêtement Bowman XRF répond aux exigences les plus strictes de l’industrie en matière de précision, de fiabilité et de facilité d’utilisation. Une conception compacte et ergonomique rend l’analyse pratique pour chaque application, à un prix garanti pour produire un retour sur investissement rapide.
Que veux tu accomplir?
Plus de précision ? Débit plus rapide ? Plus de flexibilité dans la taille de l’échantillon – ou la sortie ?
Des configurations pour chaque besoin de mesure
- Analyse des métaux de transition de la série G pour l’industrie de la joaillerie
- Série B pour petits échantillons électrolytiques
- Série P « multi-tâches » pour l’électronique, la finition générale, les métaux précieux
- Analyseur grand film mince série O
- Petit analyseur à couche mince de la série M avec optique poly capillaire micro-spot
- Série L pour les grands échantillons électrolytiques
- Série W pour mesurer les plus petites caractéristiques en microélectronique
Conception intelligente, analyse puissante
- Analyse non destructive rapide en quelques secondes
- Analyse simultanée de la composition jusqu’à 25 éléments
- Mesurez jusqu’à cinq couches de revêtement simultanément, qui peuvent toutes être des alliages
- Analyse d’épaisseur et de composition sans norme basée sur les paramètres fondamentaux (FP)
- Configuration et utilisation faciles – une connexion par câble USB
- Commandes simples du panneau avant
- Petite empreinte
- Poids léger
Interface utilisateur intuitive
- Conçu pour maximiser la flexibilité et minimiser les erreurs de l’utilisateur
- Logiciel Xralizer basé sur le framework .Net
- Interface graphique intuitive pilotée par icônes
- Analyse qualitative puissante
- Bibliothèque standard avec rappel de recertification automatique
- Touches de raccourci personnalisables pour une analyse rapide
- Affichage et sortie flexibles des données
- Générateur de rapports puissant
Performance, puissance, confort
- Conception géométrique rapprochée pour une efficacité énergétique et une précision accrues
- Le détecteur à semi-conducteurs éprouvé sur le terrain offre une résolution, une stabilité et une sensibilité supérieures
- Temps de préchauffage rapide et durée de vie du filament du tube à rayons X plus longue
- Analyse de couches minces de la ligne L pour Ag, Sn
- Plusieurs filtres primaires et collimateurs pour plus de polyvalence
- Profondeurs focales variables pour des formes d’échantillons complexes et une analyse de couche plus épaisse
- Conception de composants modulaires pour une maintenance facile
Quatre exemples d’options d’étape
Base fixe standard
Base XY programmable étendue
Base XY motorisée/programmable
Base XY allongée à course maximale
Bowman France 