Série W

La série W Micro XRF utilise une optique polycapillaire pour focaliser le faisceau de rayons X sur 7.5 µm FWHM, la plus La série W Micro XRF utilise une optique poly-capillaire pour focaliser le faisceau de rayons X à 7,5 µm FWHM, la plus petite taille de faisceau au monde pour l’analyse de l’épaisseur de revêtement à l’aide de la technologie XRF. Cela le rend idéal pour mesurer des échantillons tels que les BGA et les petites bosses de soudure. Une caméra à grossissement 150X est utilisée pour mesurer les caractéristiques à cette échelle ; il est accompagné d’une caméra secondaire à faible grossissement pour la visualisation en direct d’échantillons et l’imagerie macroscopique à vol d’oiseau. Le système à double caméra de Bowman permet aux opérateurs de voir l’intégralité de la pièce, de cliquer sur l’image pour zoomer avec la caméra à haute intensité et de localiser la fonction à programmer et à mesurer.

Une platine XY programmable précise à moins de +/- 1 µm pour chaque axe est utilisée pour sélectionner et mesurer plusieurs points ; Le logiciel de reconnaissance de formes Bowman et les fonctions de mise au point automatique le font également automatiquement. La capacité de cartographie 3D du système peut être utilisée pour visualiser la topographie d’un revêtement sur une pièce telle qu’une plaquette de silicium.

La configuration standard des instruments de la série W coLa configuration standard des instruments de la série W comprend une optique de 7,5 µm avec un tube d’anode en molybdène (le chrome et le tungstène sont en option) et un détecteur de dérive de silicium haute résolution à grande fenêtre qui traite plus de 2 millions de coups par seconde.

La série W Micro XRF est le 7ème modèle de la suite La série W Micro XRF est le 7e modèle de la suite d’instruments XRF de Bowman. Comme d’autres dans le portefeuille, il mesure simultanément jusqu’à 5 couches de revêtement et exécute le logiciel avancé Xralizer pour quantifier l’épaisseur du revêtement à partir des photons détectés. Le logiciel Xralizer combine des commandes visuelles intuitives avec des raccourcis permettant de gagner du temps, une capacité de recherche étendue et des rapports « en un clic ». Le logiciel simplifie également la création par l’utilisateur de nouvelles applications.

La série W Micro XRF est idéale pour les entreprises avec :

  • La nécessité de tester des plaquettes, des grilles de connexion, des PCB
  • Exigences pour tester rapidement plusieurs échantillons ou emplacements
  • Désir d’automatiser la mesure sur plusieurs échantillons
  • La nécessité de se conformer aux normes IPC-4552A, 4553A, 4554 et 4556
  • ASTM B568, DIN 50987 et ISO 3497
  • Le désir d’améliorer les performances et l’efficacité d’un ancien XRF – et d’obtenir un généreux bonus de reprise !

Spécification de produit

Gamme d’éléments : Aluminium 13 à Uranium 92
Excitation aux rayons X : Optique capillaire Flex-Beam cible 50 W Mo @7,5 FWHM
En option : Cr ou W
Détecteur : Détecteur de dérive au silicium à grande fenêtre avec une résolution de 135 eV ou mieux
Nombre de
couches et d’éléments 
d’analyse
:
5 couches (4 couches + base) et 10 éléments dans chaque couche.
Analyse de composition jusqu’à 25 éléments simultanément
Filtres/Collimateurs :4 filtres primaires
Profondeur Focales : Fixé à 0,02″ (0,5 mm)
Traitement numérique des impulsions :Analyseur numérique multicanaux 4096 CH avec temps de mise en forme flexible. 
Traitement automatique du signal, y compris la correction du temps mort et la correction du pic d’échappement
L’ordinateur :Intel, CORE i5 3470 (3,2 GHz), 8 Go de mémoire DDR3,
Microsoft Windows 10 Prof, équivalent 64 bits
Optique de la caméra :Résolution 1/4GA (6 mm) CMOS-1280 × 720 VGA
Grossissement vidéo :150X : avec caméra micro-vue sur écran 20″ (zoom numérique jusqu’à 600x) 10~20X : avec caméra macro-vue
Source de courant :150W, 100~240 volts ;  gamme de fréquence 47 Hz à 63 Hz
Poids :190kg (420lbs)
XYZ standard motorisé/programmable :Course XYZ : 300 mm (11,8″) x 400 mm (15,7″) x 100 mm (3,9″)
Plateau XY : 305 mm (12″) x 406 mm (16″)
Précision de l’axe X : 2,5 µm (100u ») ;  Précision de l’axe X : 1 um (40 u »)
Précision de l’axe Y : 3 um (120 u ») ;  Précision de l’axe Y : 1 um (40 u »)
Précision de l’axe Z : 1,25 um (50 u ») ; Précision de l’axe Z : 1 um (40 u »)
XY programmable étendu :Taille de la table : Non disponible
Étage d’échantillonnage XY manuel en option : Dimensions de la table : 279 mm (11″) x 254 mm (10″) Déplacement : 38 mm (1,5″) x 38 mm (1,5″)
Dimensions (L x P x H) :Interne : 914 mm (36″) x 735 mm (29″) x 100 mm (4″)
Externe : 940 mm (37mm) x 990 mm (39″) x 787 mm (31″)
Environnement de travail:20 °C (68 °F) à 25 °C (77 °F) et jusqu’à 98 % d’humidité relative, sans condensation
Autres nouvelles fonctionnalités :Matrice de protection contre les collisions de l’axe Z
Mise au point automatique et mise au point laser
Reconnaissance des formes
Transfert de données personnalisé avancé

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