Semi-conducteurs / Wafers

Nos systèmes de mesure d’ épaisseur de revêtement XRF mesurent ces finitions de semi-conducteurs :

  • Étain/Alliages d’étain
  • Cuivre
  • Nickel
  • Argent
  • Or

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Parlons

Série M

Fournit une précision inégalée pour l’analyse de petites caractéristiques (15 m FWHM); atteint < 1% d’écart type relatif pour une épaisseur inférieure à 1 μ pouce dans les plus brefs délais.

Série W

Utilise une optique poly-capillaire pour focaliser le faisceau de rayons X à 7,5 µm FWHM, la plus petite taille de faisceau au monde pour l’analyse de l’épaisseur du revêtement à l’aide de la technologie XRF.