Série P : Précision et flexibilité pour l’analyse de divers échantillons
P Series XRF
La série P est conçue pour offrir une polyvalence maximale, idéale pour mesurer des échantillons de tailles, formes et quantités variées. Elle est équipée d’une platine XY programmable de haute précision, qui offre une efficacité et une facilité d’utilisation supérieures par rapport à un plateau fixe. Les opérateurs peuvent se déplacer facilement vers les points de mesure souhaités à l’aide de la souris et d’une interface logicielle intuitive.
Des programmes de mesure multipoints peuvent être créés en un clic, permettant l’analyse automatisée de plusieurs zones d’échantillons. Un contrôle précis est également possible pour tester des zones critiques. La programmation multipoint permet aussi d’analyser des volumes d’échantillons plus importants.
La configuration standard comprend un ensemble de collimateurs multiples à 4 positions ainsi qu’une caméra à mise au point variable, idéale pour les zones de mesure en retrait ou difficiles d’accès. Les tailles de collimateurs et les distances focales peuvent être personnalisées selon les besoins de l’application. Un détecteur à dérive de silicium (SDD) avancé est inclus, ainsi que notre tube à rayons X à micro-focus longue durée, garantissant des performances fiables et constantes.

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