NEX QC

Caractéristiques

Analyser ₁₁Na à ₉₂U de manière non destructive
Solides, liquides, alliages, poudres et couches minces
Tube à rayons X 50 kV pour une large couverture élémentaire
Détecteur à semi-conducteur pour une qualité de données supérieure
Interface utilisateur « conduite par icônes » de style smartphone moderne
Plusieurs filtres à tubes automatisés pour une sensibilité accrue
Imprimante thermique intégrée pratique
Faible coût avec un rapport performances/prix inégalé

ANALYSEUR DE FLUORESCENCE X À DISPERSION D’ÉNERGIE (EDXRF) À FAIBLE COÛT

En tant qu’analyseur élémentaire de paillasse à faible coût et à fluorescence X à dispersion d’énergie (EDXRF), le Rigaku NEX QC offre une large couverture élémentaire avec une interface logicielle facile à apprendre dans un ensemble robuste conçu pour les applications industrielles de contrôle de la qualité en ligne. Analysez de manière non destructive du sodium (Na) à l’uranium (U) dans presque toutes les matrices, des solides et alliages aux poudres, liquides, boues et films minces.

EDXRF optimisé pour les applications de contrôle qualité

Spécifiquement conçu pour les applications d’analyse élémentaire de contrôle qualité de routine, le nouveau Rigaku NEX QC dispose d’une interface à écran tactile intuitive « pilotée par icônes » pour une utilisation facile et d’une imprimante intégrée pour plus de commodité.

EDXRF avec une large couverture élémentaire

Le tube à rayons X 50 kV à obturateur et le détecteur à semi-conducteur refroidi Peltier offrent une répétabilité à court terme et une reproductibilité à long terme exceptionnelles avec une excellente résolution de pic d’élément. Cette capacité haute tension (50 kV), ainsi que plusieurs filtres de tube à rayons X automatisés, offrent une large gamme d’applications XRF et de faibles limites de détection (LOD).

Options NEX QC : échantillonneur automatique, hélium et FP

Les options incluent un passeur d’échantillons automatique, une centrifugeuse d’échantillons et une purge à l’hélium pour une meilleure sensibilité aux éléments lumineux. Pour les applications nécessitant une résolution et une sensibilité plus élevées, Rigaku propose l’ analyseur de fluorescence X à dispersion d’énergie NEX QC ⁺ qui est équipé d’un détecteur de dérive de silicium (SDD).

CARACTÉRISTIQUES

Nom du produit	NEX QC
Technique	Fluorescence aux rayons X (XRF)
Bénéficier à	Analyse élémentaire de solides, liquides, poudres, alliages et couches minces
La technologie	XRF à dispersion d’énergie (EDXRF) utilisant un détecteur à semi-conducteurs
Attributs de base	Tube à rayons X 4 W, 50 kV, analyse Na à U, imprimante thermique interne
Options de base	Échantillonneur automatique à 5/6 positions He-flush, cône d’échantillonnage (position unique)
Ordinateur	Ordinateur interne, logiciel NEX QC, connectivité USB et Ethernet
Dimensions du noyau	331 (L) x 376 (H) x 432 (P) mm
Masse	Environ. 16 kg (unité centrale)
Puissance requise	1Ø, 100/220 VCA 50/60 Hz, 1,4 A