NEX QC+ QuantEZ

Caractéristiques

Analyser ₁₁Na à ₉₂U de manière non destructive
Puissant logiciel basé sur QuantEZ ^Windows®
Solides, liquides, alliages, poudres et couches minces
Tube à rayons X 50 kV pour une large couverture élémentaire
Détecteur SDD pour une résolution supérieure
Plusieurs filtres à tubes automatisés pour une sensibilité accrue
Rapport performances/prix inégalé
Logiciel de paramètres fondamentaux RPF-SQX en option

SPECTROMÈTRE À FLUORESCENCE X À DISPERSION D’ÉNERGIE HAUTE RÉSOLUTION (EDXRF)

En tant qu’analyseur élémentaire de paillasse à faible coût et à fluorescence X à dispersion d’énergie (EDXRF), le Rigaku NEX QC+ QuantEZ offre une large couverture élémentaire avec un logiciel QuantEZ basé sur Windows ^® facile à apprendre . Analysez de manière non destructive du sodium (Na) à l’uranium (U) dans presque toutes les matrices, des solides et alliages aux poudres, liquides et boues.

Analyse élémentaire sur le terrain, en usine ou en laboratoire

Spécialement conçu et conçu pour une utilisation industrielle lourde, que ce soit dans l’usine ou dans des environnements de terrain éloignés, la puissance analytique supérieure, la flexibilité et la facilité d’utilisation de la série NEX QC+ QuantEZ ajoutent à son large attrait pour une gamme d’applications toujours plus étendue , y compris l’exploration, la recherche, l’inspection RoHS en vrac et l’éducation, ainsi que les applications de surveillance industrielle et de production. Qu’il s’agisse d’un contrôle qualité de base (CQ) ou de ses variantes plus sophistiquées, telles que le contrôle qualité analytique (AQC), l’assurance qualité (AQ) ou le contrôle statistique des processus comme Six Sigma, la série NEX QC QuantEZ est le choix fiable pour l’analyse élémentaire de routine. une analyse.

Tube à rayons X 50 kV et détecteur SDD

Le tube à rayons X 50 kV à obturateur et le détecteur de dérive de silicium (SDD) refroidi par Peltier offrent une répétabilité à court terme et une reproductibilité à long terme exceptionnelles avec une excellente résolution de pic d’élément. Cette capacité haute tension (50 kV), ainsi que plusieurs filtres de tube à rayons X automatisés, offrent une large gamme d’applications XRF et de faibles limites de détection (LOD).

Options : passeur d’échantillons, hélium et FP

Les options incluent des paramètres fondamentaux, un passeur d’échantillons automatique, une centrifugeuse d’échantillons et une purge à l’hélium pour une sensibilité améliorée des éléments lumineux.

CARACTÉRISTIQUES

Nom du produit	NEX QC+ QuantEZ
Technique	Fluorescence aux rayons X (XRF)
Bénéficier à	Analyse élémentaire de solides, liquides, poudres, alliages et couches minces
La technologie	XRF à dispersion d’énergie (EDXRF) utilisant un détecteur à semi-conducteurs
Attributs de base	Tube à rayons X 4 W, 50 kV, détecteur SDD, analyse Na à U
Options de base	He-flush, échantillonneur automatique 5/6 positions, spinner (position unique), FP
Ordinateur	PC externe, système d’exploitation MS ^Windows® , logiciel QuantEZ
Dimensions du noyau	331 (L) x 376 (H) x 432 (P) mm
Masse	Environ. 16 kg (unité centrale)
Puissance requise	1Ø, 100/220 VCA 50/60 Hz, 1,4 A