NEX DE

Caractéristiques

Analyser ₁₁Na à ₉₂U de manière non destructive
Puissant logiciel basé sur QuantEZ ^Windows®
Solides, liquides, alliages, poudres et couches minces
Tube à rayons X 60 kV pour une large couverture élémentaire
Détecteur FAST SDD ^® pour des statistiques de comptage supérieures
Plusieurs filtres à tubes automatisés pour une sensibilité accrue
Rapport performances/prix inégalé
Logiciel de paramètres fondamentaux RPF-SQX en option
Logiciel de paramètres fondamentaux sans standard en option

SPECTROMÈTRE À FLUORESCENCE X À DISPERSION D’ÉNERGIE HAUTE RÉSOLUTION (EDXRF)

En tant que spectromètre élémentaire de paillasse haute performance à fluorescence X à dispersion d’énergie (EDXRF), le nouveau Rigaku NEX DE offre une large couverture élémentaire avec un logiciel QuantEZ basé sur Windows ^® facile à apprendre . Analysez de manière non destructive du sodium (Na) à l’uranium (U) dans presque toutes les matrices, des solides et alliages aux poudres, liquides, boues et films minces.

Analyse élémentaire XRF sur le terrain, en usine ou en laboratoire

Spécialement conçu et conçu pour une utilisation industrielle lourde, que ce soit dans l’usine ou dans des environnements de terrain éloignés, la puissance analytique supérieure, la flexibilité et la facilité d’utilisation du NEX DE ajoutent à son large attrait pour une gamme d’applications toujours plus étendue, y compris exploration, recherche, inspection RoHS en vrac et éducation, ainsi que des applications de surveillance industrielle et de production. Qu’il s’agisse d’un contrôle qualité de base (CQ) ou de ses variantes plus sophistiquées – telles que le contrôle qualité analytique (AQC), l’assurance qualité (QA) ou le contrôle statistique des processus comme Six Sigma – le NEX DE est le choix haute performance fiable pour l’analyse élémentaire de routine. analyse par XRF.

XRF avec tube à rayons X 60 kV et détecteur SDD

Le tube à rayons X de 60 kV et le détecteur de dérive de silicium FAST SDD ^® refroidi par Peltier offrent une répétabilité exceptionnelle à court terme et une reproductibilité à long terme avec une excellente résolution de pic d’élément. Cette capacité à haute tension (60 kV), associée à un courant d’émission élevé et à de multiples filtres de tubes à rayons X automatisés, offre une large gamme d’applications XRF et de faibles limites de détection (LOD).

Options XRF : échantillonneur automatique, vide, hélium et FP sans standard

Les options incluent des paramètres fondamentaux, une variété de passeurs d’échantillons automatiques, une centrifugeuse d’échantillons et une purge à l’hélium ou une atmosphère sous vide pour une sensibilité accrue des éléments lumineux.

*FAST SDD ^® est une marque déposée d’Amptek, Inc.

CARACTÉRISTIQUES

Nom du produit	NEX DE
Technique	Fluorescence aux rayons X (XRF)
Bénéficier à	Analyse élémentaire de solides, liquides, poudres, alliages et couches minces
La technologie	XRF à dispersion d’énergie (EDXRF) utilisant un détecteur SDD
Attributs de base	Tube à rayons X 12 W, 60 kV, détecteur SDD, analyse Na à U
Options de base	He-flush, vide, échantillonneur automatique, spinner (position unique), FP
Ordinateur	PC externe, système d’exploitation MS ^Windows® , logiciel QuantEZ
Dimensions du noyau	356 (L) x 260 (H) x 351 (P) mm
Masse	Environ. 27 kg (unité centrale)
Puissance requise	1Ø, 100/220 VCA 50/60 Hz, 1,5 A