NEX CG II

Caractéristiques

Analyse élémentaire non destructive du sodium (Na) à l’uranium (U)
Analyses élémentaires rapides de solides, liquides, poudres, revêtements et films minces
Excitation indirecte pour des limites de détection exceptionnellement basses
Tube à rayons X haute puissance 50 kV 50 W
Détecteur de dérive au silicium (SDD) à haut débit de grande surface
Analyse dans l’air, l’hélium ou le vide
Puissant et facile à utiliser QuantEZ ^de logiciel avec interface utilisateur multilingue
Logiciel avancé de paramètres fondamentaux RPF-SQX avec Scattering FP
Algorithme avancé Rigaku Profile Fitting (RPF) pour la déconvolution maximale
Divers passeurs d’échantillons automatiques pouvant accueillir des échantillons jusqu’à 52 mm
Faible coût de possession

SPECTROMÈTRE DE FLUORESCENCE X À DISPERSION D’ÉNERGIE À GÉOMÉTRIE CARTÉSIENNE DE NOUVELLE GÉNÉRATION

NEX CG II, un puissant spectromètre à fluorescence X à dispersion d’énergie (EDXRF) de deuxième génération, permet une détermination qualitative et quantitative rapide des éléments atomiques majeurs et mineurs dans une grande variété de types d’échantillons – des huiles et liquides aux solides, métaux, polymères , poudres, pâtes, revêtements et films minces.

Le Rigaku NEX CG II est un analyseur multi-éléments et polyvalent, idéal pour mesurer les concentrations d’éléments ultra-faibles et traces en pourcentage. Particulièrement bien adapté à la détermination semi-quantitative du contenu élémentaire dans des inconnues complètes, NEX CG II sert de nombreuses industries. Les applications vont de la recherche et du développement à l’assurance qualité industrielle et en usine. Il est facile à utiliser pour les opérateurs non techniques mais suffisamment puissant pour une utilisation experte dans les laboratoires commerciaux et les installations de R&D. Les utilisateurs peuvent atteindre les limites de détection les plus basses et gérer facilement des applications complexes telles que l’analyse des sols agricoles et des matières végétales, l’analyse des aliments pour animaux finis, la mesure des huiles usagées, la surveillance environnementale et bien d’autres.

GÉOMÉTRIE CARTÉSIENNE ET POLARISATION POUR LA SENSIBILITÉ AU NIVEAU DES TRACES

NEX CG II s’appuie sur l’héritage de NEX CG consistant à utiliser la géométrie cartésienne et des cibles secondaires pour la sensibilité au niveau des traces. Le NEX CG II est doté d’un noyau optique de géométrie cartésienne à couplage étroit unique et amélioré qui augmente considérablement le rapport signal/bruit et fournit une analyse élémentaire améliorée.

Contrairement aux spectromètres EDXRF conventionnels, NEX CG II est un système d’excitation indirecte utilisant des cibles secondaires plutôt que des filtres tubulaires. L’excitation monochromatique et polarisée à partir de cibles secondaires améliore considérablement les limites de détection des éléments dans des matrices hautement diffusantes telles que l’eau, les hydrocarbures et les matériaux biologiques. L’excitation de la cible secondaire en pleine géométrie cartésienne à 90° élimine le bruit de fond. En conséquence, NEX CG II apporte un nouveau niveau de sensibilité analytique à la technologie XRF. Les utilisateurs peuvent mesurer des concentrations d’éléments ultra-faibles et traces, même dans des types d’échantillons difficiles.

Le NEX CG II atteint cette puissance analytique supérieure avec un tube à rayons X en palladium à anode de 50 kV 50 W à fenêtre d’extrémité, cinq cibles secondaires couvrant la gamme élémentaire complète du sodium à l’uranium (Na – U) et une grande surface à haut débit détecteur de dérive de silicium (SDD). Ce noyau optique unique, combiné au logiciel avancé de paramètres fondamentaux RPF-SQX de Rigaku, fournit les mesures EDXRF les plus sensibles de l’industrie.

CONTRÔLE FACILE DE L’INSTRUMENT AVEC UN LOGICIEL D’ANALYSE QUALITATIVE ET QUANTITATIVE AVANCÉ

NEX CG II est facile à utiliser avec QuantEZ®, un puissant logiciel sur PC offrant un contrôle intuitif des instruments avec une navigation simple dans les menus et une interface d’analyse EZ personnalisable. Les utilisateurs peuvent maximiser leur temps et leur productivité avec des opérations de routine simplifiées et créer leurs propres méthodes à l’aide d’un simple assistant de barre de flux.

L’analyse qualitative et quantitative avancée est optimisée par le logiciel RPF-SQX Fundamental Parameters (FP) de Rigaku, doté de la technologie Rigaku Profile Fitting (RPF) et Scattering FP. Ce logiciel intégré robuste permet une analyse semi-quantitative de presque tous les types d’échantillons sans normes — et une analyse quantitative rigoureuse avec des normes. La méthode Scattering FP de Rigaku estime automatiquement la concentration d’éléments non mesurables à faible numéro atomique (H à F) et fournit les corrections appropriées.

Les étalons d’étalonnage peuvent être coûteux et difficiles à obtenir pour de nombreuses applications. Avec RPF-SQX, le nombre de normes requises est considérablement réduit, ce qui réduit considérablement le coût de possession et la charge de travail requise pour l’exécution des analyses de routine.

CARACTÉRISTIQUES

Nom du produit	NEX CG II
Technique	Fluorescence aux rayons X (XRF)
Bénéficier à	Analyse élémentaire de solides, boues, liquides, poudres, alliages, revêtements et films minces
La technologie	XRF à dispersion d’énergie à géométrie cartésienne (EDXRF) utilisant un détecteur SDD à haut débit de grande surface
Attributs de base	Tube à rayons X 50 W, 50 kV, détecteur SDD, analyse Na à U
Logiciel	QuantEZ ^® pour le contrôle des fonctions du spectromètre et l’analyse des données
Options de base	Vide, purge à l’hélium, plateaux d’échantillons, plateau d’essorage d’échantillons, PC externe avec système d’exploitation Microsoft ^® Windows ^® , UPS, paramètres fondamentaux RPF-SQX, autres fonctionnalités logicielles
Dimensions du noyau	46,3 (L) x 49,2 (P) x 38,2 (H) cm
Masse	Environ. 65,8 kg (unité centrale)
Puissance requise	1Ø, 100/220 VCA 50/60 Hz, 3,8/1,6 A