La série L est le système le plus polyvalent de Bowman
L Series XRF
Offrant toutes les fonctionnalités de la série P avec l’avantage supplémentaire d’une chambre d’échantillons plus grande et d’un déplacement étendu de la platine X-Y. Elle est idéale pour mesurer des échantillons de plus de ~10 pouces (254 mm) dans n’importe quelle dimension. La platine agrandie permet de recevoir des composants surdimensionnés ou plusieurs pièces montées sur des supports. La chambre entièrement fermée peut accueillir des échantillons jusqu’à 22″ (559 mm) de large, 24″ (610 mm) de profondeur et 13″ (330 mm) de hauteur, avec un déplacement X-Y de 10″ x 10″ (254 mm x 254 mm).
La configuration standard comprend un assemblage multi-collimateur à 4 positions et une caméra à mise au point variable conçue pour mesurer les zones en retrait. Les tailles des collimateurs et les distances focales peuvent être personnalisées selon les applications spécifiques. La platine X-Y programmable incluse permet une hauteur Z de chambre de 10″ (254 mm). Pour les échantillons plus grands, la platine peut être retirée afin de maximiser la hauteur Z de la chambre à 13″ (330 mm). Le système comprend également un détecteur SDD et un tube à rayons X micro-focus longue durée et robuste.

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