Plusieurs nouveaux procédés PCB sont devenus disponibles récemment, notamment EPAG (Electroless Palladium/Autocatalytic Gold) et EPIG (Electroless Palladium/Immersion Gold.) Je suis certain qu’il y en aura d’autres. Comment savons-nous qu’un XRF acheté aujourd’hui quantifiera avec précision toutes les nouvelles combinaisons de dépôts ?

Oui, la demande d’or plus épais sur de nombreuses conceptions de PCB, et la tendance à s’éloigner du nickel pour une multitude de raisons, a donné naissance à de nouveaux procédés qui deviendront certainement plus courants.

Tous les systèmes XRF de paillasse de Bowman mesurent avec précision jusqu’à 5 couches plaquées, de l’aluminium à l’uranium sur le tableau périodique. L’optique Bowman et la technologie de détection sont exceptionnellement bien adaptées aux processus spécifiques que vous avez mentionnés – et d’autres que nous connaissons sont en cours de développement et feront leurs débuts dans un proche avenir.

Nous avons un système XRF allemand et avons besoin d’un deuxième instrument. Quels sont les avantages d’un Bowman XRF ?

Les systèmes Bowman présentent des avantages techniques et de service importants par rapport aux appareils fabriqués à l’étranger ! Les instruments Bowman XRF ont des limites de détection plus basses et des temps de mesure courts. Ils sont alimentés par un logiciel de pointe qui combine des commandes visuelles intuitives avec des raccourcis permettant de gagner du temps, une capacité de recherche flexible et le seul véritable générateur de rapports en un clic de l’industrie. L’équipe de service technique Bowman XRF fournit une réponse de service complète le jour même pour chaque unité XRF de paillasse. (Aucun fabricant étranger ne peut commencer à respecter cet engagement !) Nous aidons également les clients à rationaliser leurs processus de test et à générer les informations requises, en moins de temps. En savoir plus .

Bowman fournit-il une assistance pour les systèmes Fischer ?

Bowman dispose d’un solide réseau de service local pour prendre en charge chaque système de mesure XRF de paillasse, sur chaque site client, y compris les systèmes fabriqués par Fischer, Hitachi / Oxford, Seiko et CMI. Nous fournissons une réponse complète le jour même pour l’entretien, l’étalonnage et la réparation ; nous fournissons également des feuilles et des standards plaqués pour chaque application. Les techniciens de maintenance Bowman travaillent souvent avec les clients pour rationaliser leurs processus de test et pour générer les informations qualitatives et quantitatives requises, en moins de temps.

Quelles fonctionnalités logicielles rendent les systèmes Bowman XRF uniques ?

Les systèmes XRF Bowman sont dotés d’une interface SW intuitive qui combine des contrôles visuels avec des raccourcis permettant de gagner du temps, des possibilités de recherche flexibles et le seul véritable générateur de rapports « en un clic » de l’industrie. Nous disposons également d’une base de données consultable intégrée qui enregistre automatiquement les lectures. Une autre fonction, disponible d’abord sur les instruments de la série O et en cours de déploiement sur d’autres modèles, est l’Auto Focus HRS. Cette fonction unique permet une mise au point parfaite sur les surfaces hautement réfléchissantes, ce qui est difficile, voire impossible, pour le laser et les autres méthodes de mise au point conventionnelles.

Comment Bowman XRF mesure-t-il une solution de placage ?

Les systèmes Bowman sont des appareils XRF « 3 en 1 » qui permettent de mesurer l’épaisseur, d’effectuer une analyse élémentaire et d’analyser la solution de placage. Pour cette dernière, une solution de placage est mesurée en versant une quantité spécifiée de solution dans une cellule spécialisée. Les systèmes Bowman analysent simultanément jusqu’à 24 éléments.

À quelle fréquence dois-je éteindre mon unité XRF ?

Vous pouvez en toute sécurité garder n’importe quel appareil XRF Bowman en marche en permanence. Si vous avez un problème de disponibilité de l’alimentation dans votre établissement, vous pouvez même envisager une alimentation sans coupure. Tous les instruments alimentés de votre laboratoire de qualité en bénéficieront – de manière majeure et mineure. Un avantage majeur est la stabilité, qui sera toujours plus grande avec une alimentation continue. Un exemple d’avantage relativement mineur est la durée de vie des lampes des instruments.

Que peut faire l’équipe de service de Bowman pour moi ?

Bowman dispose d’un solide réseau de service local pour soutenir chaque système XRF de paillasse, chez chaque client, qu’il s’agisse d’un Bowman ou d’un système fabriqué par Fischer, Hitachi / Oxford, Seiko – ou CMI. Nous proposons des conseils en matière d’applications, l’installation d’instruments et la formation des opérateurs, le service et la réparation, ainsi que des films et des étalons plaqués dur pour tous les équipements et applications XRF. L’étalonnage XRF est effectué dans le laboratoire accrédité ISO/IEC 17025 de Bowman.

Je travaille dans la qualité, mais je suis nouveau dans les tests XRF. Comment puis-je apprendre rapidement les bases de la mesure XRF ? (Nous sommes dans l’Indiana.)

Nous avons des partenaires sur le terrain couvrant Indianapolis, Fort Wayne et Evansville (en fait, toutes les grandes villes des États-Unis !), et pourrions demander à un spécialiste XRF de visiter votre laboratoire, de vous expliquer (et à vos collègues, si vous le souhaitez) comment fonctionne la technologie, le différences dans les systèmes XRF, etc. Si vous êtes intéressé, envoyez-nous un e-mail à sales@bowmanxrf.com .

Qu’est-ce qui distingue le Bowman P Series XRF ?

La série P mesure la plus grande variété de formes, de tailles d’échantillons et de quantités. Elle est équipée d’une platine X-Y programmable de haute précision qui offre plusieurs avantages par rapport à une platine fixe. Un contrôle précis est possible pour tester les zones critiques, et des volumes d’échantillonnage plus importants sont possibles grâce à la programmation multipoints.

Quelles normes de qualité s’appliquent aux Bowman XRF ?

Les systèmes de mesure de revêtement xrf Bowman sont conformes aux normes ASTM B568, DIN 50987 et ISO 3497. Pour nos clients de PCB, l’équipement Bowman est compatible avec IPC 4552. De plus, le laboratoire Bowman est accrédité ISO/IEC 17025 pour la calibration.

Qu’est-ce qui rend la série O unique ?

La série O combine des performances élevées avec une petite taille de spot de rayons X. La configuration standard comprend une optique de 80μm, ainsi qu’un détecteur SDD haute résolution capable de traiter des taux de comptage élevés. La caméra présente un grossissement plus important par rapport aux autres XRF, avec un grossissement vidéo de 45x et un zoom numérique 5x plus élevé.

Quel est le meilleur système de mesure XRF pour les petites tailles de spots de rayons X ?

La série M de Bowman est l’instrument XRF ultime pour les plus petits spots de rayons X, en focalisant le faisceau de rayons X jusqu’à 15μm FWHM. Un système à double caméra permet aux opérateurs de voir l’ensemble de la pièce, de cliquer sur l’image pour zoomer avec la caméra à plus fort magnétisme et de localiser la caractéristique à mesurer.

Quel est l’avantage de l’optique poly-capillaire ?

L’optique polycapillaire est une technologie de focalisation qui remplace le collimateur installé dans de nombreux instruments XRF. Ce système permet d’obtenir un flux plus de cent fois supérieur à celui d’un système de collimation à la même distance de la source. L’optique polycapillaire permet à la quasi-totalité des rayons X émis par le tube d’atteindre l’échantillon, ce qui se traduit par une sensibilité beaucoup plus grande pour le contrôle de très petits composants ou de revêtements fins.

Quelle est la différence entre une diode Pin et une unité SDD XRF ?

Les détecteurs à diodes PIN au silicium offrent une résolution spectrale supérieure à celle des compteurs de prop (une technologie courante plus ancienne), ce qui permet aux opérateurs de mesurer des dépôts plus fins et des concentrations d’éléments plus faibles. Les détecteurs PIN au silicium présentent un faible niveau de bruit, ainsi qu’une résolution et des limites de détection excellentes. Les détecteurs de dérive au silicium – SDD – produisent des taux de comptage plus élevés et ont une résolution spectrale supérieure – généralement 50 % supérieure à celle des détecteurs à diodes PIN. Ils ont le plus faible bruit de fond, et les meilleures limites de détection.

Quelle est la différence entre XRF et XRD ?

Les analyseurs XRF utilisent la technologie de fluorescence des rayons X pour l’analyse élémentaire. Ils peuvent être utilisés pour mesurer l’épaisseur du placage métallique et la composition élémentaire. Les analyseurs XRD utilisent la technologie de la diffraction des rayons X pour mesurer la structure atomique et moléculaire des matériaux cristallins. Ils peuvent être utilisés pour identifier et caractériser des composés sur la base de leur diagramme de diffraction.

Quelle est la plus grande taille de chambre que je peux obtenir dans un instrument XRF ?

Le volume de la chambre de la série L, qui peut accueillir des pièces allant jusqu’à 22″ x 24″, est le plus grand de sa catégorie. La grande platine d’échantillonnage permet de mesurer à la fois les grandes pièces et les grands montages d’échantillonnage contenant plusieurs pièces.

« Qu’est-ce que le XRF ? »

Les analyseurs XRF Bowman utilisent la technologie de fluorescence des rayons X pour analyser l’épaisseur et la composition des matériaux. Les rayons X sont une forme de rayonnement électromagnétique, dont la fréquence se situe entre celle des rayons ultraviolets et celle des rayons gamma. La fluorescence des rayons X est liée à l’interaction photoélectrique. Lorsque l’interaction photoélectrique se produit, un électron est arraché de son orbite, ce qui crée une vacance. Les électrons des orbites de plus haute énergie peuvent se déplacer pour remplir cette vacance. La différence d’énergie entre les deux orbites est libérée sous forme de rayons X de fluorescence. Les rayons X de fluorescence de chaque élément ont une énergie propre et sont appelés rayons X caractéristiques.