Cadres de plomb

Nos systèmes de mesure d’ épaisseur de revêtement XRF mesurent ces dépôts de boîtiers IC courants :

  • Argent
  • Or
  • Palladium
  • Ni-Pd-Au
  • Alliages de soudure

Besoin d’aide?

Parlons

Série P

Mesure avec précision la composition et l’épaisseur des revêtements multicouches. Contrôle ponctuel pour les tests de zone critique ; programmation multipoint pour un débit élevé.

Série W

Comprend une optique de 7,5 µm et un détecteur de dérive de silicium haute résolution, qui traite plus de 2 millions de coups par seconde. Une capacité de taux de comptage élevée est la clé du MDL le plus bas et de la résolution spectrale la plus élevée.

Avez-vous besoin d’analyser des caractéristiques inférieures à 100 μm ?

Le Bowman O Series XRF fournit une analyse de petites caractéristiques avec une précision exceptionnelle ; gain de densité de flux jusqu’à 5 ordres de grandeur par rapport au collimateur. Le système est équipé d’une grande fenêtre SDD.