Avantages de la technologie XRF

XRF est très sensible aux éléments métalliques, en particulier les éléments allant de Ti-U sur le tableau périodique. Pour l’analyse de l’épaisseur du revêtement, XRF peut être appliqué à n’importe quel revêtement métallique, monocouche ou multicouche, sur n’importe quel substrat métallique ou non métallique.

Pour l’analyse des alliages, XRF peut déterminer la composition en % pour chaque élément d’alliage et identifier la désignation du numéro de nuance d’alliage. Pour l’analyse des solutions, les ions métalliques dans les bains de placage peuvent être quantifiés pour le contrôle du processus.

Principales caractéristiques du système Bowman

  • Essais non destructifs avec une préparation minimale des échantillons
  • Analyse rapide – les données sont disponibles en quelques secondes
  • Opération peu coûteuse : peut être exécuté par des opérateurs novices sans scientifique dédié
  • La technique polyvalente peut s’adapter à différents types d’échantillons matriciels
  • Analyse de petits points pour des micro-caractéristiques sur un grand échantillon
  • Analyse simultanée de la plupart des éléments métalliques
  • Méthode de test de vérification industrielle largement acceptée

Technologie de détecteur XRF

Comparez les différentes technologies de détection utilisées dans les instruments à fluorescence X

Détecteur de compteur d’hélices rempli de gaz

  • Bruit de base élevé
  • Mauvaise résolution
  • Instable avec changement de température et d’humidité
  • Nécessite des réétalonnages fréquents

Détecteur de diode PIN au silicium

  • Faible niveau de bruit
  • Excellente résolution
  • Grandes limites de détection
  • Peltier refroidi : très stable – pas d’effets climatiques

Détecteur de dérive de silicium (SDD)

  • Bruit de base le plus bas
  • Détection des comptes les plus élevés
  • Résolution la plus élevée
  • Meilleures limites de détection
  • La plus grande polyvalence pour la plus large gamme d’éléments
  • Peltier refroidi : très stable – pas d’effets climatiques

Tous les instruments Bowman XRF utilisent des détecteurs au silicium pour la plus haute résolution, les niveaux de bruit les plus bas et la plus grande stabilité globale.

Cela garantit la mesure de l’épaisseur du revêtement et l’analyse élémentaire les plus précises possibles.