La série A Micro XRF est conçue pour des mesures très précises des plus petites caractéristiques aux rayons X présentes dans les semi-conducteurs et la microélectronique. Elle supporte des panneaux PCB très grands ainsi que des plaquettes de toute taille, permettant une couverture complète de l’échantillon et des mesures automatisées multi-points.

Grâce à des optiques poly-capillaires, la série A de Bowman concentre le faisceau X à une taille ultra-fine de 7,5 μm FWHM — la plus petite taille au monde pour l’analyse d’épaisseur de couche avec des instruments XRF. Une caméra avec un grossissement de 140X capture des mesures détaillées à cette échelle, complétée par une seconde caméra à faible grossissement pour la visualisation en direct et l’imagerie macro en vue d’ensemble. Ce système à double caméra permet aux opérateurs de voir la pièce entière, de zoomer sur des zones spécifiques et de cibler précisément les caractéristiques à mesurer.

Le système intègre une table programmable X-Y avec un déplacement de 600 mm (23,6 pouces) dans chaque direction, capable de manipuler les plus grands échantillons du secteur. Avec une précision supérieure à ±1 μm par axe, cette table permet la sélection et la mesure de plusieurs points. Le logiciel de reconnaissance de formes de Bowman ainsi que les fonctions d’autofocus automatisent ce processus. De plus, la reconnaissance de formes intégrée peut cartographier la topographie des couches sur des pièces comme les plaquettes de silicium.

La Micro XRF série W utilise des optiques poly-capillaires pour focaliser le faisceau de rayons X à 7,5 µm FWHM, la plus petite taille de faisceau au monde pour l’analyse d’épaisseur de revêtement par technologie XRF. Idéale pour mesurer de petits échantillons tels que les BGA et les soudures fines, elle est équipée d’une caméra à grossissement 140X accompagnée d’une caméra secondaire à faible grossissement pour la visualisation en direct et l’imagerie macro. Le système à double caméra de Bowman permet de voir la pièce entière, de zoomer facilement et de cibler précisément la zone à mesurer.

Une platine programmable X-Y avec une précision de ±1 µm permet de sélectionner plusieurs points de mesure, assistée par le logiciel de reconnaissance de forme et l’auto-focus de Bowman. Le système offre également une cartographie 3D pour visualiser la topographie des revêtements sur des pièces comme les wafers de silicium.

La configuration standard des instruments de la série W comprend des optiques à 7,5 µm, un tube à anode en molybdène (chromium et tungstène en option) et un détecteur Silicon Drift à grande fenêtre et haute résolution, capable de traiter plus de 2 millions de counts par seconde.

Septième modèle de la gamme XRF de Bowman, la série W mesure simultanément jusqu’à 5 couches de revêtement et utilise le logiciel Archer, qui propose des commandes intuitives, des raccourcis, une recherche avancée, des rapports en un clic et facilite la création de nouvelles applications.

La série M offre des performances exceptionnelles pour la mesure de l'épaisseur des revêtements sur les plus petites fonctionnalités. Son système optique poly-capillaire avancé — plus perfectionné que celui de la série O — concentre le faisceau de rayons X jusqu’à une finesse extrême de 7,5 μm FWHM. Pour prendre en charge une telle précision, le système intègre une caméra à fort grossissement (140x) avec un zoom numérique amélioré. Comme le champ de vision se réduit à fort grossissement, une seconde caméra capture une image macro de la pièce à mesurer. Ce système à double caméra permet à l’utilisateur de visualiser l’ensemble de la pièce, de cliquer sur une zone de l’image macro, puis de zoomer automatiquement avec la caméra à fort grossissement pour cibler précisément la caractéristique à analyser.

Une platine XY programmable haute précision permet de sélectionner et de mesurer plusieurs points, manuellement ou automatiquement via le logiciel de reconnaissance de formes intégré. Pour une analyse plus étendue, un système de cartographie 2D permet de visualiser la topographie du revêtement sur des surfaces telles que les tranches de silicium.

La configuration standard comprend une optique de 15 μm et un détecteur LSDD haute résolution, capable de traiter des taux de comptage élevés. Une platine d’échantillons XY programmable est également incluse. En raison de la courte distance focale du système optique, les échantillons mesurés avec la série M doivent être plats.

Cela est rendu possible grâce à un système optique de focalisation par poly-capillaire, qui remplace l’assemblage de collimateur utilisé dans les systèmes standard de Bowman. Ces optiques concentrent les rayons X émis par la fenêtre de sortie du tube en un spot très précis (80 μm FWHM), tout en conservant pratiquement 100 % du flux du tube. Contrairement aux systèmes à collimateur, qui atténuent une grande partie des rayons X ne passant pas par de petites ouvertures, le système optique poly-capillaire dirige presque l’intégralité du faisceau vers l’échantillon. Résultat : une sensibilité nettement accrue pour l’analyse de composants très petits ou de revêtements fins. Des temps de test plus courts permettent également une meilleure répétabilité par rapport aux collimateurs de taille équivalente.

La configuration standard comprend des optiques de 80 μm ainsi qu’un détecteur SDD haute résolution capable de traiter des taux de comptage élevés. Le système est également équipé d’une caméra à fort grossissement, offrant un zoom vidéo 55x et un zoom numérique 7x — supérieur à des modèles comme la série P. Une platine échantillon XY programmable est incluse de série. En raison de la courte distance focale des optiques, les échantillons utilisés avec la série O doivent être plats.

Elle offre une zone de mesure de 305 mm x 305 mm (12″ x 12″), la meilleure de sa catégorie, pour des pièces allant jusqu’à 222 mm (8,75″) de hauteur. Un multi-collimateur motorisé permet de sélectionner différentes tailles de spots, tandis qu’une caméra à mise au point variable prend en charge des distances focales de 6,35 mm à 89 mm (0,25″ à 3,5″).

Une platine programmable à moteur servo assure un positionnement rapide et précis. La porte en porte-à-faux facilite l’accès à l’échantillon, et la fonction de visualisation « table view » permet de naviguer en un clic sur toute la zone mesurable. Un joystick intégré en option permet de contrôler manuellement la platine XY depuis le panneau avant, sans utiliser le logiciel.

Le système standard comprend un collimateur à 4 positions (4, 8, 12 et 24 mil), avec des tailles en option de 2x2 mil à 60 mil. La mise au point variable permet de mesurer des zones en retrait, et la précision de la platine atteint 10,2 µm (400 µin), avec reconnaissance de formes et mise au point automatique. Le système inclut un détecteur SDD et un tube à rayons X micro-focus longue durée.

La série K est conforme aux normes ASTM B568, ISO 3497 et IPC-4552.

Pour l’analyse de très petites caractéristiques, la série K est également disponible avec une optique poly-capillaire, dotée d’une optique de 15 µm FWHM, d’un détecteur LSDD et d’une platine de haute précision améliorée, avec une précision inférieure à 2 µm (80 µin). Une caméra à fort grossissement (140x) avec zoom numérique avancé, associée à une caméra secondaire à faible grossissement, permet une navigation fluide et un ciblage précis. En raison de la faible distance focale de l’optique, les échantillons doivent être plats.

Offrant toutes les fonctionnalités de la série P avec l’avantage supplémentaire d’une chambre d’échantillons plus grande et d’un déplacement étendu de la platine X-Y. Elle est idéale pour mesurer des échantillons de plus de ~10 pouces (254 mm) dans n’importe quelle dimension. La platine agrandie permet de recevoir des composants surdimensionnés ou plusieurs pièces montées sur des supports. La chambre entièrement fermée peut accueillir des échantillons jusqu’à 22″ (559 mm) de large, 24″ (610 mm) de profondeur et 13″ (330 mm) de hauteur, avec un déplacement X-Y de 10″ x 10″ (254 mm x 254 mm).

La configuration standard comprend un assemblage multi-collimateur à 4 positions et une caméra à mise au point variable conçue pour mesurer les zones en retrait. Les tailles des collimateurs et les distances focales peuvent être personnalisées selon les applications spécifiques. La platine X-Y programmable incluse permet une hauteur Z de chambre de 10″ (254 mm). Pour les échantillons plus grands, la platine peut être retirée afin de maximiser la hauteur Z de la chambre à 13″ (330 mm). Le système comprend également un détecteur SDD et un tube à rayons X micro-focus longue durée et robuste.

La série P est conçue pour offrir une polyvalence maximale, idéale pour mesurer des échantillons de tailles, formes et quantités variées. Elle est équipée d’une platine XY programmable de haute précision, qui offre une efficacité et une facilité d’utilisation supérieures par rapport à un plateau fixe. Les opérateurs peuvent se déplacer facilement vers les points de mesure souhaités à l’aide de la souris et d’une interface logicielle intuitive.

Des programmes de mesure multipoints peuvent être créés en un clic, permettant l’analyse automatisée de plusieurs zones d’échantillons. Un contrôle précis est également possible pour tester des zones critiques. La programmation multipoint permet aussi d’analyser des volumes d’échantillons plus importants.

La configuration standard comprend un ensemble de collimateurs multiples à 4 positions ainsi qu’une caméra à mise au point variable, idéale pour les zones de mesure en retrait ou difficiles d’accès. Les tailles de collimateurs et les distances focales peuvent être personnalisées selon les besoins de l’application. Un détecteur à dérive de silicium (SDD) avancé est inclus, ainsi que notre tube à rayons X à micro-focus longue durée, garantissant des performances fiables et constantes.

La série B de Bowman propose une solution simple et efficace pour les mesures XRF en configuration descendante. Elle est équipée d’une platine d’échantillonnage fixe, permettant aux opérateurs de positionner manuellement les pièces à analyser. Grâce au système d’imagerie vidéo intégré, il est facile d’aligner la zone de test à l’intérieur du réticule affiché à l’écran pour un positionnement précis.

La chambre d’échantillonnage est identique à celle de la série P, avec une conception fendue, mais sans table échantillon X-Y programmable, ce qui en fait une option plus abordable pour les tests courants.

La configuration standard comprend un collimateur fixe et une caméra à distance focale fixe. L’appareil intègre également un détecteur SDD haute résolution ainsi que le tube à rayons X à micro-focalisation longue durée de Bowman. Comme tous les analyseurs XRF de paillasse Bowman, la série B peut être mise à niveau pour inclure plusieurs collimateurs ou une caméra à mise au point variable, offrant ainsi une plus grande flexibilité.

Les analyseurs XRF de la série G de Bowman se distinguent par deux caractéristiques principales : une imagerie vidéo de précision avancée et une mesure exclusive « par le bas » grâce à un axe Z motorisé avec mise au point automatique par laser — une fonctionnalité unique à Bowman. Cette conception innovante garantit des résultats extrêmement précis pour une grande variété d'applications.

Idéale pour les tests de bijoux, l’analyse des métaux précieux et les petits composants comme les connecteurs et les fixations, la série G dispose d’une chambre compacte et d’un faible encombrement. Une platine XY manuelle avec un déplacement de 1,5" x 1,5" permet un positionnement facile des pièces petites ou grandes.

Chaque analyseur XRF de la série G est équipé d’un collimateur fixe, d’une caméra à mise au point fixe, d’un détecteur SDD haute performance, et d’un tube à rayons X à micro-focalisation longue durée. Comme tous les instruments XRF de paillasse de Bowman, la série G est entièrement évolutive — avec des options pour plusieurs collimateurs et une caméra à mise au point variable, afin de répondre à vos besoins d’analyse en constante évolution.

La série d'analyseurs XRF portables Vanta Element offre une analyse élémentaire rapide pour une identification et un tri efficaces des nuances d'alliages, le tout à un prix abordable. La gamme comprend deux modèles économiques : l'analyseur Vanta Element, pour une identification fiable des alliages, et l'analyseur Vanta Element-S, qui permet également de détecter les éléments légers.

Ces deux analyseurs offrent une identification rapide des nuances et des comparaisons intuitives à l'écran grâce à une interface conviviale, de type smartphone. Conçu pour la simplicité, le logiciel minimise le temps de formation et simplifie les tests de métaux. Dotés de la technologie éprouvée Axon Technology™ d'Olympus, ces appareils garantissent des résultats précis et cohérents.