A Series Micro XRF
Vantage Access2025-07-03T11:33:27+00:00La série A Micro XRF est conçue pour des mesures très précises des plus petites caractéristiques aux rayons X présentes dans les semi-conducteurs et la microélectronique.
La série A Micro XRF est conçue pour des mesures très précises des plus petites caractéristiques aux rayons X présentes dans les semi-conducteurs et la microélectronique.
La Micro XRF série W utilise des optiques poly-capillaires pour focaliser le faisceau de rayons X à 7,5 µm FWHM, la plus petite taille de faisceau au monde pour l’analyse d’épaisseur de revêtement par technologie XRF.
La série M offre des performances exceptionnelles pour la mesure de l'épaisseur des revêtements sur les plus petites fonctionnalités.
Cela est rendu possible grâce à un système optique de focalisation par poly-capillaire, qui remplace l’assemblage de collimateur utilisé dans les systèmes standard de Bowman.
Elle offre une zone de mesure de 305 mm x 305 mm (12″ x 12″), la meilleure de sa catégorie, pour des pièces allant jusqu’à 222 mm (8,75″) de hauteur.
Offrant toutes les fonctionnalités de la série P avec l’avantage supplémentaire d’une chambre d’échantillons plus grande et d’un déplacement étendu de la platine X-Y.
Les analyseurs XRF de la série G de Bowman se distinguent par deux caractéristiques principales : une imagerie vidéo de précision avancée et une mesure exclusive
La série B de Bowman propose une solution simple et efficace pour les mesures XRF en configuration descendante.
Les analyseurs XRF de la série G de Bowman se distinguent par deux caractéristiques principales : une imagerie vidéo de précision avancée et une mesure exclusive
La série d'analyseurs XRF portables Vanta Element offre une analyse élémentaire rapide pour une identification et un tri efficaces des nuances d'alliages, le tout à un prix abordable.
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